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KIC在Cemconex技术会议上推出最新的热温度曲线测量仪
2008年10月17日点击: 编辑: zhoujl
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多次荣获行业大奖的热工艺开发与控制产品供应商KIC宣布其将在2008年10月16日至17日举行的Cemconex技术会议暨展会上推出新一代热温度曲线测量仪——KIC Explorer。

本次活动将在罗马尼亚蒂米什瓦拉Hotel Club Senator的Expovest举行,为欧洲增长最快的一大新兴市场制造商观摩KIC新一代热温度曲线测量仪提供前所未有的大好良机。KIC Explorer采用十分紧凑的设计,并成功克服了当今各种热应用中面临的工艺尺寸限制。

KIC Explorer顺应RoHS要求,提供7、9和12 TC通道,并包含KIC备受推崇的易用型图形软件。这个强大的软件选项为针对标准与无铅工艺创建精确的温度曲线图提供了一种解决方案,包括处理各种最棘手的板,其中,必须针对各个元件、焊膏和PCB开发独立的工艺窗口。

KIC Explorer以KIC在可靠性方面享有的崇高声誉为后盾,并整合了先进的表面贴装(SMT)和额定高温元件。该新产品可提供能够满足当今制造商需求的可靠性,并采用专为抵御实际工厂应用的严峻环境而设计的创新牢固封装。它能够提供所有必需的热温度曲线数据和最高取样率,以及更大的内存空间和卓越的数据精度。操作者可通过简单的USB连接将这些热温度曲线数据输入计算机。

在充满竞争的全球市场中,制造商依靠各种十分有效的自动化解决方案来满足其质量要求,同时保留其生产工艺的速度和精度。作为热温度曲线测量解决方案市场的领先供应商,KIC的硬件与软件可支持质量管理,提供全面可追溯性文件记录,创造更高生产力并实现无与伦比的性能、灵活性和小型化。

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